[发明专利]一种计度器电能表的校表方法有效
| 申请号： | 201810634455.7 | 申请日： | 2018-06-20 |
| 公开（公告）号： | CN108710100B | 公开（公告）日： | 2021-03-09 |
| 发明（设计）人： | 邢祝贺 | 申请（专利权）人： | 宁波三星智能电气有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/04 | 分类号： | G01R35/04 |
| 代理公司： | 宁波甬致专利代理有限公司 33228 | 代理人： | 佘新育 |
| 地址： | 315000 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种计度器电能表的校表方法，包括以下步骤：第一步，安装计度器电能表；第二步，校表芯片获取光电采样精度；第三步，判断增益1.0是否合格，若不合格，则进入第四步，若合格，则进入第五步；第四步，校表芯片找出异常电压点位x，异常电流点位y，人工对x、y调试；第五步，判断0.5L角差是否合格，若不合格，则进入第六步，若合格，则进入第七步；第六步，校表芯片找出异常角差点位m，人工对m调试；第七步，判断小电流偏置是否合格，若不合格，则进入第八步，若合格，则进入第九步；第八步，校表芯片找出异常偏置点位n，人工对n调试；第九步，校表完成。本发明校表步骤较少，大大降低了校表难度、提高了校表效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 计度器 电能表 方法 | ||
【主权项】：
1.一种计度器电能表的校表方法，其特征在于，包括以下步骤：第一步，开始，将计度器电能表安装在校表台上；第二步，上电初始化校表台，校表台上的校表芯片通过校表台上的光电采样器获取计度器电能表的光电采样精度；第三步，校表芯片判断增益1.0是否合格，若增益1.0不合格，则进入第四步，若增益1.0合格，则进入第五步；第四步，校表芯片找出异常电压点位x，异常电流点位y，对异常电压点位x，异常电流点位y分别进行调试；第五步，校表芯片判断0.5L角差是否合格，若0.5L角差不合格，则进入第六步，若0.5L角差合格，则进入第七步；第六步，校表芯片找出异常角差点位m，对异常角差点位m进行调试；第七步，校表芯片判断小电流偏置是否合格，若小电流偏置不合格，则进入第八步，若小电流偏置合格，则进入第九步；第八步，校表芯片找出异常偏置点位n，对异常偏置点位n进行调试；第九步，校表完成，断电拆卸计度器电能表。
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