[发明专利]晶闸管的检测方法有效
| 申请号： | 201810613800.9 | 申请日： | 2018-06-14 |
| 公开（公告）号： | CN109061428B | 公开（公告）日： | 2019-09-03 |
| 发明（设计）人： | 杨霖;洪少林;杨志凌;侯孝刚;吴忠良;钟泓;黄伟梁;薛运林 | 申请（专利权）人： | 优利德科技(中国)股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 东莞市兴邦知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 44389 | 代理人： | 梁首强 |
| 地址： | 523808 广东省东莞市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： |
本发明涉及一种晶闸管的检测方法，包括：向第一模拟开关(S1)输出高电平，控制被测晶闸管的控制极(G)输出高电平，并向第二模拟开关(S2)输出高电平，控制所述晶闸管的第二主电极(T2)输出高电平；读取所述晶闸管的导通电压值ADP，当所述ADP>2V时，开启反向导通；当0.1V | ||
| 搜索关键词： | 晶闸管 高电平 检测 输出 模拟开关 读取 导通电压 导通性能 反向导通 正向导通 控制极 主电极 短路 | ||
【主权项】：
1.一种晶闸管的检测方法，其特征在于，包括：向第一模拟开关(S1)输出高电平，控制被测晶闸管的控制极(G)输出高电平，并向第二模拟开关(S2)输出高电平，控制所述晶闸管的第二主电极(T2)输出高电平；读取所述晶闸管的导通电压值ADP，当所述ADP>2V时，开启反向导通；当0.1V<ADP<2V时，所述晶闸管正向导通；当ADP<0.1V时，所述晶闸管损坏或短路；所述第一模拟开关(S1)以及第二模拟开关(S2)均为单刀双掷开关，其两个静触点分别连接高电平以及低电平，所述第二模拟开关的静触点连接被测晶闸管的第二主电极(T2)，所述晶闸管的第一主电极(T1)接地；其中，开启反向导通包括：向第一模拟开关(S1)输出低电平，控制被测晶闸管的控制极(G)输出低电平，并向第二模拟开关(S2)输出低电平，控制所述晶闸管的第二主电极(T2)输出低电平；读取所述晶闸管的导通电压值ADP，当所述ADP<‑2V时，所述晶闸管开路或未连接；当‑0.4V<ADP<‑0.1V时，所述晶闸管反向导通，当ADP>‑0.1V时，所述晶闸管损坏或短路。
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