[发明专利]超声波扫描方法和超声波扫描装置在审
| 申请号: | 201810611507.9 | 申请日: | 2018-06-14 |
| 公开(公告)号: | CN108760885A | 公开(公告)日: | 2018-11-06 |
| 发明(设计)人: | 许平康;刘命江;方桂芹;黄仁德 | 申请(专利权)人: | 德淮半导体有限公司 |
| 主分类号: | G01N29/04 | 分类号: | G01N29/04 |
| 代理公司: | 上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294 | 代理人: | 孙佳胤;董琳 |
| 地址: | 223300 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | 本发明涉及一种超声波扫描方法和超声波扫描装置,所述超声波扫描方法包括:提供一待扫描晶圆,所述待扫描晶圆置于一基台上;自所述基台边缘初始扫描位置开始,采用超声波进行逐行扫描,并获取超声波的反射波波形,所述反射波波形至少包括第一波形,所述第一波形对应于扫描位置自晶圆区域进入基台区域的反射波形;当获取到所述第一波形时,移动至下一行进行扫描,且扫描方向与上一行的扫描方向相反。 | ||
| 搜索关键词: | 超声波扫描 超声波扫描装置 反射波波形 扫描方向 扫描 超声波 晶圆 初始扫描位置 基台边缘 晶圆区域 扫描位置 逐行扫描 基台 反射 移动 | ||
【主权项】:
1.一种超声波扫描方法,其特征在于,包括:提供一待扫描晶圆,所述待扫描晶圆置于一基台上;自所述基台边缘初始扫描位置开始,采用超声波进行逐行扫描,并获取超声波的反射波波形,所述反射波波形至少包括第一波形,所述第一波形对应于扫描位置自晶圆区域进入基台区域的反射波形;当获取到所述第一波形时,移动至下一行进行扫描,且扫描方向与上一行的扫描方向相反。
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