[发明专利]半导体装置在审

专利信息
申请号: 201810596906.2 申请日: 2018-06-11
公开(公告)号: CN109427871A 公开(公告)日: 2019-03-05
发明(设计)人: 梁正吉;朴雨锡;徐东灿;宋昇珉;裵金钟;裵东一 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/423;H01L29/78
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 刘培培;黄隶凡
地址: 韩国京畿道水*** 国省代码: 韩国;KR
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明提供一种半导体装置,包含衬底;堆叠在衬底上的多个沟道层;围绕多个沟道层的栅极电极;以及在栅极电极的相对侧上的嵌入式源极/漏极层。嵌入式源极/漏极层各自具有第一区域及在第一区域上的第二区域。第二区域具有具备不同成分的多个层。
搜索关键词: 半导体装置 嵌入式源极 第二区域 第一区域 栅极电极 沟道层 漏极层 衬底 堆叠
【主权项】:
1.一种半导体装置,包括:衬底;多个沟道层,堆叠在所述衬底上;栅极电极,围绕所述多个沟道层;以及嵌入式源极/漏极层,在所述栅极电极的相对侧上,所述嵌入式源极/漏极层各自具有第一区域以及在所述第一区域上的第二区域,所述第二区域包括具有不同成分的多个层。
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