[发明专利]卷轴型机械波侦测装置在审
| 申请号： | 201810565374.6 | 申请日： | 2018-06-04 |
| 公开（公告）号： | CN110553721A | 公开（公告）日： | 2019-12-10 |
| 发明（设计）人： | 陈健章;梁贻德;吴强;张管青;林晓逸 | 申请（专利权）人： | 风起科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01H17/00 | 分类号： | G01H17/00 |
| 代理公司： | 11228 北京汇泽知识产权代理有限公司 | 代理人： | 程殿军 |
| 地址： | 中国台湾桃园市中坜区中大*** | 国省代码： | 中国台湾;TW |
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| 摘要： | 一种卷轴型机械波侦测装置，包含：一可挠基板；数个矩阵型机械波感测晶片，每个该矩阵型机械波感测晶片包含有数个机械波感测元件与一控制电路，该些矩阵型机械波感测晶片均匀配置于该可挠基板上；一线路层，形成于该可挠基板上，借以电性连接该些矩阵型机械波感测晶片；及一保护胶层，形成于该些矩阵型机械波感测晶片上方与该些矩阵型机械波感测晶片之间，借以于该可挠基板弯曲时，保护该些矩阵型机械波感测晶片，并于该些矩阵型机械波感测晶片接触一待侦测物件时，形成保护。 | ||
| 搜索关键词： | 机械波 感测晶片 矩阵型 可挠基板 保护胶层 电性连接 感测元件 控制电路 侦测装置 卷轴 线路层 物件 侦测 配置 | ||
【主权项】：
1.一种卷轴型机械波侦测装置，其特征在于，其包含：/n一可挠基板；/n数个矩阵型机械波感测晶片，每个该矩阵型机械波感测晶片包含有数个机械波感测元件与一控制电路，该些矩阵型机械波感测晶片均匀配置于该可挠基板上；/n一线路层，形成于该可挠基板上，借以电性连接该些矩阵型机械波感测晶片；及/n一保护胶层，形成于该些矩阵型机械波感测晶片上方与该些矩阵型机械波感测晶片之间，借以于该可挠基板弯曲时，保护该些矩阵型机械波感测晶片，并于该些矩阵型机械波感测晶片接触一待侦测物件时，形成保护。/n
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