[发明专利]显示屏点灯测试装置及方法有效

专利信息
申请号: 201810557646.8 申请日: 2018-06-01
公开(公告)号: CN108806565B 公开(公告)日: 2020-08-04
发明(设计)人: 王海;蔡昆岳 申请(专利权)人: 武汉华星光电半导体显示技术有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00
代理公司: 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 代理人: 黄威
地址: 430079 湖北省武汉市东湖新技术*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种显示屏点灯测试装置及方法,该装置用于对多个待测显示屏模块同时执行一点灯测试过程,包括:数个D型连接器,采样处理器;现场可编程门阵列芯片分别与D型连接器、采样处理器连接以接收信号数据和微控指令而产生对应的微控参数,依微控参数对信号数据进行处理以输出点灯测试所需的信号数据至该待测显示屏模块,从而对待测显示屏模块进行点灯测试。通过上述方式,通过D型连接器能一次性检测多个不同型号的待测显示屏模块同时执行一点灯测试,简化显示屏点灯测试装置的硬件部分及工作流程,提高工作效率。
搜索关键词: 显示屏 点灯 测试 装置 方法
【主权项】:
1.一种显示屏点灯测试装置,用于对多个待测显示屏模块同时进行点灯测试,其特征在于,包括:整合连接器,其两侧设有测试引线插头、测试引线插座均可连接与其匹配的电压开关、电流开关和标准电流开关,以将显示面板与应用处理器连接,构成所述待测显示屏模块;数个D型连接器,可连接多个所述待测显示屏模块,接收并传输电力信号;采样处理器,接收所述电力信号采集量化成所需数字数据和/或图片数据并输出至现场可编程门阵列芯片,接收并根据指令而输出对应的微控指令;以及现场可编程门阵列芯片内集成有微处理器、显示控制器和存储配控器,所述微处理器用于输出初始化信息,且所述微处理器连接所述显示控制器,所述现场可编程门阵列芯片通过所述显示控制器输出所述初始化信息通过所述数个D型连接器而传至多个所述待测显示屏模块进行初始化操作,所述存储配控器与D型连接器与釆样处理器连接,以接收所述数字数据和/或图片数据与所述微控指令,所述现场可编程门阵列芯片根据所述微控指令而产生对应的微控参数,并根据所述微控参数对所述数字数据和/或图片数据进行处理,以输出所述待测显示屏模块进行点灯测试所需的数字数据和/或图片数据至多个所述待测显示屏模块,从而对多个所述待测显示屏模块同时进行一点灯测试。
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