[发明专利]一种光纤干涉仪臂长差的测量装置在审

专利信息
申请号: 201810557019.4 申请日: 2018-06-01
公开(公告)号: CN108827601A 公开(公告)日: 2018-11-16
发明(设计)人: 周欢生 申请(专利权)人: 苏州维创度信息科技有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215000 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种光纤干涉仪臂长差的测量装置,主要解决现有利用光学干涉方法的测量系统稳定性不高及测量精度低的问题。本发明的光纤干涉仪臂长差测量装置,包括:窄线宽激光器、保偏光纤耦合器、相位调制器、偏振态控制器、声光移频器、光纤耦合器、待测光纤干涉仪、光电探测器、频谱仪、信号处理及显示模块、微波信号发生器,通过双光频梳在微波域进行干涉,并用频谱仪测量干涉信号,通过干涉信号一个周期内的带宽即可得到待测光纤干涉仪的臂长差,同时可通过改变光频梳的频率间隔来实现测量精度的变化,提高了测量精度和系统的稳定性,弥补了利用光学干涉的方法无法实现大臂长差测量的缺点,其工作流程简单,可推广性强。
搜索关键词: 臂长差 光纤干涉仪 测量装置 测量 待测光纤 干涉信号 光学干涉 频谱仪 保偏光纤耦合器 微波信号发生器 偏振态控制器 窄线宽激光器 光电探测器 光纤耦合器 声光移频器 相位调制器 测量系统 工作流程 频率间隔 显示模块 信号处理 差测量 干涉仪 推广性 微波域 干涉 大臂 光频 双光 带宽 并用
【主权项】:
1.一种光纤干涉仪臂长差的测量装置,其特征在于,通过双光频梳在微波域进行干涉,并用频谱仪来测量干涉信号,通过干涉信号一个周期内的带宽就可得到待测光纤干涉仪的臂长差。
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