[发明专利]一种硫离子的检测方法有效
| 申请号： | 201810534225.3 | 申请日： | 2018-05-29 |
| 公开（公告）号： | CN108760702B | 公开（公告）日： | 2021-08-27 |
| 发明（设计）人： | 台德艳;周子涵;刘金水 | 申请（专利权）人： | 安徽师范大学 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 芜湖安汇知识产权代理有限公司 34107 | 代理人： | 尹婷婷 |
| 地址： | 241000 安徽省*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种硫离子的检测方法，以壳聚糖为碳源合成得到碳量子点溶液，然后与二氧化锰纳米片溶液混合后构建荧光探针溶液，通过向其中加入不同浓度的硫离子溶液，以硫离子浓度为横坐标，加入硫离子前后体系在420nm波长处的荧光强度值为纵坐标构建线性曲线，进而可检测出待测硫离子浓度。该方法成本低廉、灵敏度高、线性关系好、操作简便易行、选择性较好。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 离子 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种硫离子的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、将以壳聚糖为碳源的碳量子点溶液与MnO2纳米片溶液混合，构建碳量子点/MnO2纳米片荧光探针溶液；S2、向碳量子点/MnO2纳米片荧光探针溶液中加入不同终浓度的硫离子水溶液，反应2小时，然后测试各体系在344nm激发波长下的荧光光谱；S3、以硫离子浓度为横坐标，加入硫离子前后体系在420nm处的荧光强度比值为纵坐标构建线性曲线，进而可检测出待测硫离子浓度。
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