[发明专利]一种量子芯片端口阻抗测试装置及测量方法在审
| 申请号： | 201810528267.6 | 申请日： | 2018-05-29 |
| 公开（公告）号： | CN108445293A | 公开（公告）日： | 2018-08-24 |
| 发明（设计）人： | 贾志龙;陈华鹏 | 申请（专利权）人： | 合肥本源量子计算科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R27/08 | 分类号： | G01R27/08 |
| 代理公司： | 安徽知问律师事务所 34134 | 代理人： | 代群群 |
| 地址： | 230088 安徽省合肥市高新*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种量子芯片端口阻抗测试装置及测量方法，属于量子领域。本发明精确便捷的量子芯片端口阻抗测试装置包括锁相放大器、继电器阵列切换电路、量子芯片、MCU控制器、上位机，继电器阵列切换电路每一路与量子芯片每个端口相连，继电器阵列切换电路包括双刀双掷继电器，双刀双掷继电器连接MCU控制器，MCU控制器连接上位机。本发明的测试方法包括将锁相放大器信号输出调节至最小电压，将锁相放大器的信号输出调节至测试电压值，打开上位机的通讯程序，依次接通量子芯片需要测量的端口，利用上位机的锁相放大器程序采集电压和电流数据。本发明装置及测量方法具有测量效率高、操作方便、避免量子芯片击穿的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 量子 锁相放大器 上位机 阻抗测试装置 继电器阵列 芯片端口 测量 双刀双掷继电器 电路 信号输出 芯片 测量效率 测试电压 电流数据 通讯程序 芯片击穿 最小电压 接通 采集 测试 | ||
【主权项】：
1.一种量子芯片端口阻抗测试装置，其特征在于，包括锁相放大器、继电器阵列切换电路、量子芯片、MCU控制器、上位机，所述锁相放大器的输出端连接所述继电器阵列切换电路的输入端，所述继电器阵列切换电路的输出端连接所述锁相放大器的输入端，所述继电器阵列切换电路每一路与所述量子芯片每个端口相连，所述继电器阵列切换电路包括双刀双掷继电器，所述双刀双掷继电器连接所述MCU控制器，所述MCU控制器连接上位机。
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