[发明专利]一种电磁场近场测量装置和制作电磁探针的方法在审
| 申请号： | 201810479196.5 | 申请日： | 2018-05-18 |
| 公开（公告）号： | CN108535520A | 公开（公告）日： | 2018-09-14 |
| 发明（设计）人： | 杨青 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G01R1/07 | 分类号： | G01R1/07;G01R29/08 |
| 代理公司： | 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 | 代理人： | 胡红娟 |
| 地址： | 310013 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电磁场近场测量装置和制作电磁探针的方法，属于电磁近场测量领域。包括激光发生器、电磁探针、第一光电探测器和三端口环形器，电磁探针包括沿激光的光路依次设置的光纤准直透镜、集成偏振片和四分之一波片的微纳光纤、处于外加电磁场范围内的非线性纳米线和一反光元件；激光束进入电磁探针后在非线性纳米线的电光效应作用下携带被测电磁场参数信息，并在反光元件的反射作用下沿原路返回。激光通过非线性纳米线的电光效应将待测电磁场参数的信息耦合到激光中。激光首次经过非线性纳米线后经过光纤光栅结构的反射再次通过非线性纳米线，并反射回微纳光纤中，再通过光电探测器对激光进行测量，实现对待测电磁场的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 电磁场 电磁探针 纳米线 激光 近场测量 光电探测器 反光元件 微纳光纤 反射 测量 光纤光栅结构 三端口环形器 四分之一波片 激光发生器 集成偏振片 参数信息 电光效应 反射作用 信息耦合 依次设置 原路返回 准直透镜 电光 激光束 光路 下沿 制作 光纤 携带 | ||
【主权项】：
1.一种电磁场近场测量装置，其特征在于，包括：激光发生器，用于发射激光；电磁探针，包括沿光路依次设置的：光纤准直透镜；集成偏振片和四分之一波片的微纳光纤；处于外加电磁场范围内的非线性纳米线；和一反光元件；进入电磁探针的激光束转换为圆偏振光后，在所述非线性纳米线的电光效应作用下携带被测电磁场参数信息，并在所述反光元件的反射作用下沿原路返回；第一光电探测器，接受所述携带被测电磁场参数信息的反射光束，解调出所述外加电磁场的强度信息。
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