[发明专利]数据质量校验方法、装置、存储介质及电子设备在审

专利信息
申请号: 201810475673.0 申请日: 2018-05-17
公开(公告)号: CN108647358A 公开(公告)日: 2018-10-12
发明(设计)人: 李春毅 申请(专利权)人: 东软集团股份有限公司
主分类号: G06F17/30 分类号: G06F17/30
代理公司: 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 代理人: 魏嘉熹;南毅宁
地址: 110179 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 本公开涉及一种数据质量校验方法、装置、存储介质及电子设备能够自适应地给数据表结构的各个字段添加校验规则,提升数据校验的效率。所述方法包括:确定待校验数据的数据表结构包括的各个字段的属性信息;根据所述属性信息及预设校验规则库中的属性信息与校验规则之间的对应关系,分别为所述数据表结构包括的每个字段添加校验规则;根据添加的校验规则,对所述待校验数据进行校验。
搜索关键词: 校验规则 数据表结构 属性信息 存储介质 电子设备 校验数据 质量校验 字段添加 校验规则库 数据校验 校验 自适应 预设 字段
【主权项】:
1.一种数据质量校验方法,其特征在于,包括:确定待校验数据的数据表结构包括的各个字段的属性信息;根据所述属性信息及预设校验规则库中的属性信息与校验规则之间的对应关系,分别为所述数据表结构包括的每个字段添加校验规则;根据添加的校验规则,对所述待校验数据进行校验。
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