[发明专利]一种多自由度半导体晶圆刻蚀装置有效
申请号: | 201810463610.3 | 申请日: | 2018-05-15 |
公开(公告)号: | CN108648980B | 公开(公告)日: | 2019-12-13 |
发明(设计)人: | 梁亚;梁志强 | 申请(专利权)人: | 马文彬 |
主分类号: | H01J37/32 | 分类号: | H01J37/32;H01L21/67 |
代理公司: | 44376 广州高炬知识产权代理有限公司 | 代理人: | 刘志敏 |
地址: | 234000 安徽省宿*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明属于半导体生产设备技术领域,具体的说是一种多自由度半导体晶圆刻蚀装置,包括反应桶、激励线圈一、离子加速器、固定套、反应台、震荡单元和电机,激励线圈一套设在反应桶外部,激励线圈一用于将反应桶内刻蚀气体激发成等离子体;固定套固定在气体导入管下端;离子加速器用于给等离子体加速而轰击半导体晶圆;反应台位于离子加速器正下方;电机带动震荡单元转动,震荡单元驱动反应台产生多自由度震荡转动,实现半导体晶圆上的刻蚀废料氯化铝自动脱离;本发明通过使刻蚀废料被及时有效被排除,提高半导体晶圆的刻蚀效率和刻蚀效果,有利于半导体晶圆生产的产量的提高以及半导体晶圆品质的提升。 | ||
搜索关键词: | 半导体晶圆 离子加速器 多自由度 激励线圈 震荡单元 反应台 反应桶 刻蚀装置 固定套 刻蚀 转动 等离子体 半导体生产设备 等离子体加速 气体导入管 电机带动 刻蚀气体 刻蚀效果 刻蚀效率 自动脱离 氯化铝 下端 轰击 电机 震荡 驱动 激发 外部 生产 | ||
【主权项】:
1.一种多自由度半导体晶圆刻蚀装置,其特征在于:包括反应桶(1)、激励线圈一(2)、离子加速器(3)、固定套(4)、反应台(5)、震荡单元(6)和电机(8),所述反应桶(1)上设置有气体导入管(11)和气体输出管(12);所述气体导入管(11)位于反应桶(1)顶端,气体导入管(11)用于向反应桶(1)内导入刻蚀气体;所述气体输出管(12)位于反应桶(1)下端,气体输出管(12)用于将反应桶(1)内的气体向外输送;所述激励线圈一(2)套设在反应桶(1)外部,激励线圈一(2)用于将反应桶(1)内刻蚀气体激发成等离子体;所述固定套(4)固定在气体导入管(11)下端,固定套(4)用于固定离子加速器(3);所述离子加速器(3)位于气体导入管(11)正下方,离子加速器(3)用于给等离子体加速;所述反应台(5)位于离子加速器(3)正下方,反应台(5)用于放置和固定半导体晶圆(9);所述震荡单元(6)的上端与反应台(5)连接,震荡单元(6)的下端与电机(8)连接,电机(8)带动震荡单元(6)转动,震荡单元(6)驱动反应台(5)产生多自由度震荡转动,实现半导体晶圆(9)上的刻蚀废料自动脱离;/n所述震荡单元(6)为设置的震荡轴一;所述震荡轴一包括轴套(61)、上轴(62)、弹性平衡组件(63)、浮板(64)、叶轮一(65)、下轴(66)、转动体(67)和滚体(68),所述轴套(61)内充有液体;所述上轴(62)安装于轴套(61)上部,上轴(62)的上端与反应台(5)固定连接,上轴(62)的下端设置有球头;所述弹性平衡组件(63)位于上轴(62)的上部,弹性平衡组件(63)用于使上轴(62)处于弹性平衡状态;所述浮板(64)位于液体的液面处,浮板(64)与上轴(62)固定连接,浮板(64)用于使上轴(62)浮起;所述叶轮一(65)位于液体中,叶轮一(65)与上轴(62)固定连接,叶轮一(65)用于带动上轴(62)转动;所述下轴(66)位于轴套(61)的下部,下轴(66)与电机(8)固定连接;所述转动体(67)位于上轴(62)下端,转动体(67)与下轴(66)的上端固定连接,转动体(67)的中央设置有圆滑的凹槽(671),转动体(67)的边缘均布有多片转动叶片(672),转动体(67)用于带动液体转动并使转动的液体液面升高;所述凹槽(671)用于支撑上轴(62)下端的球头滑动;所述滚体(68)位于轴套(61)的底部与转动体(67)之间,滚体(68)用于减少转动体(67)与轴套(61)之间的摩擦力。/n
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