[发明专利]一种用于多种样品同步高通量加样系统

摘要

本发明涉及一种用于多种样品同步高通量加样系统，其特征在于，该加样系统包括：离心固定机构(1)，离心固定机构(1)上具有芯片槽；芯片(2)，芯片(2)定位和固定在离心固定机构(1)的芯片槽中；加样块(3)，加样块(3)上具有多个用于存储多种试剂的加样柱(5)，加样块(3)通过离心固定机构(1)定位和叠放在芯片(2)的正上方；加压机构(4)，加压机构(4)设置在加样块(3)上方，用于将压力均匀地施加在加样块(3)与芯片(2)的接触面上，保证二者在离心状态下完全贴紧。本发明适用于稀有样本的高通量精准分配，或是多种样品的同时定量分配，具有便捷、高效、高稳定性、低成本、可重复利用等优点。

主权项

1.一种用于多种样品同步高通量加样系统，其特征在于，该加样系统包括：离心固定机构(1)，所述离心固定机构(1)上具有芯片槽；芯片(2)，所述芯片(2)定位和固定在所述离心固定机构(1)的芯片槽中；加样块(3)，所述加样块(3)上具有多个用于存储多种试剂的加样柱(5)，所述加样块(3)通过所述离心固定机构(1)定位和叠放在所述芯片(2)的正上方；加压机构(4)，所述加压机构(4)设置在所述加样块(3)上方，用于将压力均匀地施加在所述加样块(3)与芯片(2)的接触面上，保证二者在离心状态下完全贴紧。