[发明专利]一种红外辐射特征瞬态温度场精确测量方法有效

专利信息
申请号: 201810420149.3 申请日: 2018-05-04
公开(公告)号: CN108562363B 公开(公告)日: 2019-12-31
发明(设计)人: 王金涛;刘英纳;娄炯;毛一鸣;孙丽明 申请(专利权)人: 中国传媒大学
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00
代理公司: 11210 北京纽乐康知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人: 黄敏华
地址: 100024 北京市朝阳区定福*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种红外辐射特征瞬态温度场精确测量方法,包括如下步骤:S1:完成测温幂系数n(i,j)的标定;S2:测定发射率ε;S3:计算目标的温度值。本发明建立“灰度值-温度”映射关系,采用不同材料挡板温度测量法,快速建立映射关系表,有效地提高了红外热成像测温公式中幂系数n(i,j)的精度,从而提高了红外热成像测温的精度;每个热像仪像元对应一个幂系数n(i,j),而非整个面阵探测器只有一个系数,这样可以有效降低热像仪像元间非均匀性的影响。
搜索关键词: 测温 红外辐射特征 精确测量方法 红外热成像 瞬态温度场 热像仪 像元 映射关系表 挡板 非均匀性 计算目标 快速建立 温度测量 映射关系 发射率 有效地 整个面 标定 探测器 灰度
【主权项】:
1.一种红外辐射特征瞬态温度场精确测量方法,其特征在于,包括如下步骤:/nS1:完成测温幂系数n(i,j)的标定,其中,(i,j)表示像素坐标,i=0-639,j=0-511,具体包括如下步骤:/nS1.1:完成灰度值与黑体温度的映射关系表;/nS1.2:制备实验材料,并将制备的实验材料紧密固定在可控温的电热陶瓷板上面;/nS1.3:对实验材料进行加热,当温度加热到T
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