[发明专利]微波光子矢量网络分析装置及微波器件散射参数的测量方法有效
| 申请号: | 201810407639.X | 申请日: | 2018-05-02 |
| 公开(公告)号: | CN108614162B | 公开(公告)日: | 2020-06-09 |
| 发明(设计)人: | 吴龟灵;丁玟;金钲韬;陈建平 | 申请(专利权)人: | 上海交通大学 |
| 主分类号: | G01R27/28 | 分类号: | G01R27/28 |
| 代理公司: | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人: | 张宁展 |
| 地址: | 200240 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | 一种微波光子矢量网络分析装置及微波器件散射参数的测量方法,装置包括微波源,沿该微波源的信号输出方向依次是信号加载模块、光采样模块和信号处理模块,所述的信号处理模块的输出端分别与所述的微波源和光采样模块的控制端相连;所述的信号加载模块的两个测试端口与待测器件的两端相连。本发明能对微波信号直接采样与变频,抛弃了传统网络分析仪中的超外差结构和/或直接变频结构,在提高测量频率范围、避免镜像干扰等问题的同时,简化了系统的结构,降低了系统的复杂度、成本和功耗等。 | ||
| 搜索关键词: | 微波 光子 矢量 网络分析 装置 器件 散射 参数 测量方法 | ||
【主权项】:
1.一种微波光子矢量网络分析装置,其特征在于,包括微波源(1),沿该微波源(1)的信号输出方向依次是信号加载模块(2)、光采样模块(3)和信号处理模块(4),所述的信号处理模块(4)的输出端分别与所述的微波源(1)和光采样模块(3)的控制端相连;所述的信号加载模块(2)的两个测试端口与待测器件的两端相连。
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