[发明专利]半导体装置有效
申请号: | 201810383978.9 | 申请日: | 2013-03-25 |
公开(公告)号: | CN108807208B | 公开(公告)日: | 2023-06-23 |
发明(设计)人: | 船矢琢央;五十岚孝行 | 申请(专利权)人: | 瑞萨电子株式会社 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;H01L23/488;H01L23/522;H01L27/06 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 鲁山;孙志湧 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 公开了一种半导体装置。在半导体基板(SB)上隔着第1绝缘膜地形成线圈(CL1),以覆盖第1绝缘膜以及线圈(CL1)的方式形成第2绝缘膜,在第2绝缘膜上形成有焊盘(PD1)。在第2绝缘膜上形成有具有使焊盘(PD1的一部分露出的开口部(OP1)的层叠膜(LF),在所述层叠绝缘膜上形成有线圈(CL2)。线圈(CL2)配置在线圈(CL1)的上方,线圈(CL2)与线圈(CL1)进行磁耦合。层叠膜(LF)由氧化硅膜(LF1)、其上的氮化硅膜(LF2)、以及其上的树脂膜(LF3)构成。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
【主权项】:
1.一种半导体装置,具有:半导体基板;第1线圈,隔着第1绝缘膜形成在所述半导体基板上;第2绝缘膜,在所述半导体基板上以覆盖所述第1绝缘膜以及所述第1线圈的方式形成;第1焊盘,在所述第2绝缘膜上形成并且配置于与所述第1线圈在俯视时不重叠的位置;层叠绝缘膜,在所述第2绝缘膜上形成并且具有使所述第1焊盘露出的第1开口部;第2线圈,在所述层叠绝缘膜上形成并且配置于所述第1线圈的上方;以及第1布线,在包括从所述第1开口部露出的所述第1焊盘上的所述层叠绝缘膜上形成并且与所述第1焊盘电连接。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造