[发明专利]阵列基板及其检测方法、液晶面板及其配向方法有效
| 申请号： | 201810380088.2 | 申请日： | 2018-04-25 |
| 公开（公告）号： | CN108594498B | 公开（公告）日： | 2021-08-24 |
| 发明（设计）人： | 朱清永 | 申请（专利权）人： | TCL华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/133 | 分类号： | G02F1/133;G02F1/1337;G02F1/1362 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 郝传鑫;熊永强 |
| 地址： | 518132 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种阵列基板，所述阵列基板的显示区内为像素单元，所述显示区外围设有依次串联的多个功能控制点，所述功能控制点用于控制所述像素单元，任意两个相邻所述功能控制点之间均设有TFT开关，各所述TFT开关均并联于开关控制点。通过对所述开关控制点的电压控制，可以按需求实现各所述功能控制点之间的串联/断开状态切换。从而省去对金胶的使用。本申请还涉及所述阵列基板的检测方法，以及含有所述阵列基板的液晶面板、及所述液晶面板的配向方法。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 及其 检测 方法 液晶面板 | ||
【主权项】：
1.一种阵列基板，其特征在于，所述阵列基板的显示区内为像素单元，所述显示区外围设有依次串联的多个功能控制点，所述功能控制点用于控制所述像素单元，任意两个相邻所述功能控制点之间均设有TFT开关，各所述TFT开关均为并联，并联的多个所述TFT开关均由同样位于所述显示区外围的开关控制点所控制。
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