[发明专利]页岩微纳米基质组构力学属性的检测方法和装置在审
申请号: | 201810317860.6 | 申请日: | 2018-04-10 |
公开(公告)号: | CN108872284A | 公开(公告)日: | 2018-11-23 |
发明(设计)人: | 李鑫;姜振学;周雯;唐相路;李卓;王朋飞;李廷微;张昆;王国臻;仇恒远;孙玥 | 申请(专利权)人: | 中国石油大学(北京) |
主分类号: | G01N23/2251 | 分类号: | G01N23/2251;G01Q60/24 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 李小波;黄健 |
地址: | 102249*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明实施例提供一种页岩微纳米基质组构力学属性的检测方法和装置,其中,方法包括:对预先获取的页岩样品的表面进行剖光处理;对经过剖光处理的页岩样品的表面进行扫描观测,获得扫描电镜图;利用峰值压力定量纳米力学成像技术、通过在剖光处理后的页岩样品表面的偏斜扫描,获取每个像素点产生的相应力学曲线数据;根据所述力学曲线数据获取所述页岩样品的样品杨氏模量;控制原子力显微镜将所述样品杨氏模量在所述页岩样品的表面投点,获取杨氏模量图;应用图像特征点定位技术将所述杨氏模量图与所述扫描电镜图对应,获得用于表征微纳米级别镜下的页岩样品的力学属性。 | ||
搜索关键词: | 页岩样品 杨氏模量 力学属性 光处理 微纳米 方法和装置 扫描电镜图 力学曲线 基质组 页岩 扫描 原子力显微镜 特征点定位 成像技术 峰值压力 纳米力学 数据获取 应用图像 预先获取 像素点 检测 偏斜 观测 | ||
【主权项】:
1.一种页岩微纳米基质组构力学属性的检测方法,其特征在于,包括:对预先获取的页岩样品的表面进行剖光处理;对经过剖光处理的页岩样品的表面进行扫描观测,获得扫描电镜图;利用峰值压力定量纳米力学成像技术、通过在剖光处理后的页岩样品表面的偏斜扫描,获取每个像素点产生的相应力学曲线数据;根据所述力学曲线数据获取所述页岩样品的样品杨氏模量;控制原子力显微镜将所述样品杨氏模量在所述页岩样品的表面投点,获取杨氏模量图;应用图像特征点定位技术将所述杨氏模量图与所述扫描电镜图对应,获得用于表征微纳米级别镜下的页岩样品的力学属性。
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