[发明专利]光学邻近效应修正模型及其建立方法和掩膜板的形成方法有效
| 申请号: | 201810315842.4 | 申请日: | 2018-04-10 |
| 公开(公告)号: | CN110361926B | 公开(公告)日: | 2022-11-18 |
| 发明(设计)人: | 沈泫 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 |
| 主分类号: | G03F1/36 | 分类号: | G03F1/36 |
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 徐文欣;吴敏 |
| 地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | 一种光学邻近效应修正模型及其建立方法和掩膜板的形成方法,建立方法包括:提供若干参考图形;对所述参考图形进行阈值获取处理,所述阈值获取处理的方法包括:以参考图形为掩膜进行第一模拟曝光处理,获取参考光强分布;根据所述参考图形获取测试掩膜板;以所述测试掩膜板为掩膜进行测试曝光处理,获取测试图形,所述测试图形具有测试尺寸;通过测试图形和参考光强分布获取阈值信息,所述阈值信息用于在所述参考光强分布中获取第一矫正图形,所述第一矫正图形具有第一矫正尺寸,所述第一矫正尺寸与所述测试尺寸相等;获取与所述参考图形对应的参考信息;建立参考信息和阈值信息的对应关系模型。所述方法建立的光学邻近效应修正模型的精度较高。 | ||
| 搜索关键词: | 光学 邻近 效应 修正 模型 及其 建立 方法 掩膜板 形成 | ||
【主权项】:
1.一种光学邻近效应修正模型的建立方法,其特征在于,包括:提供若干参考图形;对所述参考图形进行阈值获取处理,获取阈值信息和参考信息,所述阈值获取处理的方法包括:以参考图形为掩膜进行第一模拟曝光处理,获取参考光强分布;根据所述参考图形获取测试掩膜板;以所述测试掩膜板为掩膜进行测试曝光处理,获取测试图形,所述测试图形具有测试尺寸;通过测试图形和参考光强分布获取阈值信息,所述阈值信息用于在所述参考光强分布中获取第一矫正图形,所述第一矫正图形具有对应于所述测试尺寸的第一矫正尺寸,所述第一矫正尺寸与所述测试尺寸相等;获取与所述参考图形对应的参考信息;重复所述阈值获取处理至获取若干参考信息以及相应的阈值信息;建立参考信息和阈值信息的对应关系模型。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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