[发明专利]一种矿物制片方法在审

专利信息
申请号: 201810304686.1 申请日: 2018-04-08
公开(公告)号: CN110320388A 公开(公告)日: 2019-10-11
发明(设计)人: 张朝坤;韩倩;芦建文 申请(专利权)人: 成都理工大学
主分类号: G01Q30/20 分类号: G01Q30/20
代理公司: 北京华仲龙腾专利代理事务所(普通合伙) 11548 代理人: 李静
地址: 610059 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种矿物制片方法,包括以下步骤:1)根据矿物样品的特性,制备矿物样品的薄片;2)根据原子力显微镜的检测条件和矿物样品薄片的贴合性,制备矿物样品片。本发明根据矿物样品的特性和原子力显微镜的不同检测条件,采取了不同措施,普遍适用于各种矿物样品,金属样品,材料样品的制备,具有成本低廉、易操作、性能稳定、便于重复观察的优点。
搜索关键词: 矿物样品 制备 原子力显微镜 检测条件 矿物 制片 材料样品 金属样品 贴合性 重复 观察
【主权项】:
1.一种矿物制片方法,其特征在于,包括以下步骤:1)矿物薄片的制备:a.对于样品为不完全解理矿物:将矿物样品进行敲碎,暴露其不规则解理面;对矿物样品进行磨片抛光后,用切割机切成薄片,清洗风干后,得矿物薄片;b.对于样品为极完全解理、完全解理或中等解理矿物:将矿物样品进行敲碎后,直接剥出矿物带有光滑平整且不发生弯曲的完全解理面的薄片,清洗风干后,得矿物薄片;2)原子力显微镜矿物样品片的制备:a.对于气相或不与冷嵌胶反应的液相检测条件的矿物样品制备:将矿物样品薄片待测面正对硅胶垫,放置在硅胶垫上,让待测平面与硅胶垫充分贴合,再放上硅胶垫圈,使硅胶垫圈与硅胶垫充分贴合并使矿物薄片位于硅胶垫圈中央区,接着向垫圈内注入金相冷嵌胶,用另一片硅胶垫盖在垫圈上,压紧压平,将多余胶挤出来;静置一段时间后,将硅胶垫打开,并去除周围多余残留胶质,得到矿物样品片,密封保存;b.对于液相检测条件的矿物样品制备:将硅胶垫圈放置于硅胶垫上并充分贴合好,接着向垫圈内注入金相冷嵌胶,立刻将PE薄膜覆盖于硅胶垫圈上,将矿物薄片待测面朝上放置于PE薄膜上,然后用另一片硅胶垫片压住,并施压使矿物样品镶嵌于冷嵌胶和PE膜组成的凹槽中,得到矿物样品片,密封保存;c.对于矿物薄片与硅胶垫不易贴合的矿物样品的制备:在用作压盖的硅胶垫上打个小孔,插入压签备用,将矿物薄片待测面正对硅胶垫,放置在硅胶垫上,再放上硅胶垫圈并与硅胶底片充分贴合好,使矿物薄片位于硅胶垫圈中央区,用压签压住矿物薄片,使其紧贴硅胶垫,然后向硅胶垫圈内注入配置好的金相冷嵌胶,将压签上的硅胶垫推下来盖住该样品,并压紧压平,将多余胶挤出来,静置,拿开用作压盖的硅胶垫,得到矿物样品片,密封保存。
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