[发明专利]一种应用于拼接镜的粗共相调节的方法与检测系统有效

专利信息
申请号: 201810285478.1 申请日: 2018-04-03
公开(公告)号: CN108845415B 公开(公告)日: 2021-02-26
发明(设计)人: 李斌;刘燕德;吴建 申请(专利权)人: 华东交通大学
主分类号: G02B23/04 分类号: G02B23/04;G02B23/12;G02B23/00
代理公司: 南昌华成联合知识产权代理事务所(普通合伙) 36126 代理人: 黄晶
地址: 330013 江*** 国省代码: 江西;36
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摘要: 一种应用于拼接镜的粗共相调节的检测系统,包括:拼接望远镜,准直透镜,4f系统,第一分束器,拼接镜MASK,第二分束器,第三分光束,成像系统,夏克‑哈特曼波前探测器以及控制系统。本发明提出利用远场光斑相干性的方法来检测拼接镜piston误差,本方法具有无限量程检测、较快速度和高能量利用率的检测piston误差的优点;本发明在拼接镜背后放置的三电容传感器来控制驱动器的精确移动,达到了主动共相调节的目的。
搜索关键词: 一种 应用于 拼接 共相 调节 方法 检测 系统
【主权项】:
1.一种应用于拼接镜的粗共相调节的检测系统,其特征在于包括:拼接望远镜,包括多个拼接子镜,所述拼接子镜背后设有电容传感器和促动器,所述拼接望远镜接收外围来自待测物体的入射光线,并会聚成出射光线发出;准直透镜,将接受光束转为平行光束;4f系统,将来准直透镜的光束导向第一分束器;第一分束器,将入射光束分成第一分光束和第二分光束;拼接镜MASK,将第二分光束导向第一夏克‑哈特曼波前探测器;第二分束器,将第一分光束分成第三分光束以及第四分光束;第三分光束导向成像系统,第四分光束导向第二夏克‑哈特曼波前探测器;以及控制系统,与第一夏克‑哈特曼波前探测器、第二夏克‑哈特曼波前探测器以及成像系统数据连通,并与电容传感器和促动器电性连接。
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