[发明专利]CdTe QD@ZIF-8纳米复合材料在检测铬离子中的应用有效
| 申请号： | 201810280315.4 | 申请日： | 2018-04-02 |
| 公开（公告）号： | CN108535227B | 公开（公告）日： | 2020-01-17 |
| 发明（设计）人： | 胡玉峰;张俊鹏;刘杰;邢瀚文 | 申请（专利权）人： | 大连理工大学 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 21200 大连理工大学专利中心 | 代理人： | 李晓亮;潘迅 |
| 地址： | 124221 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明属于环境中样品检测技术领域，公开一种CdTe QD@ZIF‑8纳米复合材料在检测铬离子中的应用。将CdTe QDs@ZIF‑8纳米复合材料分散于HEPEs缓冲溶液中，加入不同浓度的Cr | ||
| 搜索关键词： | 铬离子 纳米复合材料 检测 荧光 荧光光谱仪 待测样品 化学稳定 离子 标准曲线确定 抗干扰能力 标准曲线 标准样品 浓度变化 样品检测 应用 绘制 | ||
【主权项】：
1.CdTe QDs@ZIF-8纳米复合材料在检测铬离子中的应用，其特征在于：将CdTe QDs@ZIF-8纳米复合材料分散于HEPEs缓冲溶液中，加入不同浓度的Cr
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