[发明专利]一种集成电路CP测试Pass Flag保存、刷新、读取比较方法及其电路

摘要

本发明公开了一种集成电路CP测试Pass Flag保存、刷新、读出比对方法及片上测试电路，该电路包括将CP测试Pass Flag寄存器读写逻辑、芯片上电将CP Pass Flag自动由NVM读入相关寄存器的逻辑、用于存储CP Pass Flag的NVM存储器、NVM存储器读写逻辑、CP Pass Flag寄存器值与NVM读出数据对比逻辑、CP Pass Flag寄存器等。本发明所述方法提供一种CP Pass Flag自动化保存方法，并对芯片产品CP测试完成情况进行监控，有效地提高测试效率及控制芯片测试质量。

主权项

1.一种集成电路CP测试Pass Flag保存、刷新、读出比对电路，其特征在于：芯片硬件由SFR读写逻辑(101)、NVM读写逻辑(103)、CP Pass Flag自动读出逻辑(102)、一个NVM存储器(105)、一个比较逻辑(106)、若干组用于装载CP Pass Flag信息的CP Pass Flag寄存器(104)、以及其它相关的组合逻辑构成，其中：SFR读写逻辑(101)、NVM读写逻辑(103)用于生成SFR和NVM的读写控制信号和地址信号；NVM存储器(105)接收NVM读写逻辑(103)产生的地址信号和读写控制信号，写入或读出相应地址存储的CP Pass Flag数据；CP Pass Flag数据寄存器(104)用于上电后保存由NVM读出的CP Pass Flag信息，可以通过测试命令直接访问，读出或写入CP Pass Flag数据；CP Pass Flag自动读出逻辑(102)在上电复位后，自动将NVM存储的CP Pass Flag数据读出并存储到CP Pass Flag寄存器中；比较逻辑(106)用于将NVM存储器(103)输出数据和CP Pass Flag寄存器(104)中数据进行比较。