[发明专利]自动光学检测系统及其操作方法有效
| 申请号： | 201810211822.2 | 申请日： | 2018-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN108627457B | 公开（公告）日： | 2021-06-11 |
| 发明（设计）人： | 温光溥;吴文明;黄俊彦 | 申请（专利权）人： | 德律科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/892;B07C5/342 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 徐金国 |
| 地址： | 中国台湾台北*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 一种自动光学检测系统及其操作方法。自动光学检测系统包括第一自动光学检测机器与第二自动光学检测机器，第二自动光学检测机器电性连接至第一自动光学检测机器。第一自动光学检测机器使用第一解析度检测待测物，以检测待测物是否存在可能有缺陷的区域。第二自动光学检测机器使用比第一自动光学检测机器的第一解析度高的第二解析度，仅在可能有缺陷的区域内进行检查，以检测待测物中可能有缺陷的区域内是否有任一缺陷。综上所述，自动光学检测系统兼备“零脱逃”和“零误判”这两个标准，消除了人工验证的成本和不确定性。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 光学 检测 系统 及其 操作方法 | ||
【主权项】：
1.一种自动光学检测系统，其特征在于，包括：一第一自动光学检测机器，使用一第一解析度检测一待测物，以检测该待测物是否存在可能有缺陷的区域；以及一第二自动光学检测机器，电性连接至该第一自动光学检测机器，该第二自动光学检测机器使用一第二解析度仅在该可能有缺陷的区域内进行检查，以检测该待测物中该可能有缺陷的区域内是否有任一缺陷，其中该第二解析度高于该第一解析度。
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