[发明专利]调谐长程SPR器件及利用该器件检测折射率的方法在审
| 申请号： | 201810186713.X | 申请日： | 2018-03-07 |
| 公开（公告）号： | CN109709068A | 公开（公告）日： | 2019-05-03 |
| 发明（设计）人： | 汪之又;刘辉 | 申请（专利权）人： | 长沙学院 |
| 主分类号： | G01N21/41 | 分类号： | G01N21/41 |
| 代理公司： | 安化县梅山专利事务所 43005 | 代理人： | 夏赞希 |
| 地址： | 410000 湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开一种调谐长程SPR器件及利用该器件检测折射率的方法，该调谐长程SPR器件包括激光器、透镜、棱镜、LRSPR传感芯片、检测介质层、单元光电探测器、可调电压输出装置和数据处理系统；LRSPR传感芯片依次包括制备于棱镜底面上的氧化物导电层、外场调制介质层、缓冲介质层、金属功能层、表面修饰层和样品池；可调电压输出装置由数据处理系统控制；样品池用于盛放检测介质层，且样品池设置于表面修饰层的下表面处，其与样品池之间留有一间隙；检测介质层的液面与表面修饰层的下表面接触。本发明调谐长程SPR器件结构简单，其通过测量外场的信号可计算出检测介质层折射率的变化，其检测响应速度快，检测动态范围大，提高了传感器的实用性。 | ||
| 搜索关键词： | 调谐 介质层 样品池 长程 检测 表面修饰层 数据处理系统 传感芯片 可调电压 器件检测 输出装置 下表面 折射率 棱镜 介质层折射率 氧化物导电层 透镜 光电探测器 金属功能层 缓冲介质 器件结构 外场调制 激光器 传感器 外场 盛放 液面 制备 测量 响应 | ||
【主权项】：
1.调谐长程SPR器件，其特征在于，其包括激光器、透镜、棱镜、LRSPR传感芯片、检测介质层、单元光电探测器、可调电压输出装置和数据处理系统；LRSPR传感芯片依次包括制备于棱镜底面上的氧化物导电层、外场调制介质层、缓冲介质层、金属功能层、表面修饰层和样品池；可调电压输出装置由数据处理系统控制；样品池用于盛放检测介质层，且样品池设置于表面修饰层的下表面处，其与样品池之间留有一间隙；检测介质层的液面与表面修饰层的下表面接触。
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