[发明专利]具静电放电防护功能的半导体装置及静电放电的测试方法有效
| 申请号： | 201810171235.5 | 申请日： | 2018-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN110223969B | 公开（公告）日： | 2021-07-13 |
| 发明（设计）人： | 姜钧;曾颖伟;张秉真;唐天浩 | 申请（专利权）人： | 联华电子股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L23/60 | 分类号： | H01L23/60;G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 陈小雯 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开一种具有静电放电防护功能的半导体装置及其静电放电的测试方法，该静电放电防护的半导体装置包含集成电路、密封环以及导电层。其中，集成电路设置在晶片上，并具有第一区域以及一第二区域，而密封环则设置在晶片上，环绕集成电路。导电层至少覆盖第一区域，并且电连接密封环。 | ||
| 搜索关键词： | 静电 放电 防护 功能 半导体 装置 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种具有静电放电防护功能的半导体装置，其特征在于，包含：集成电路，设置在一晶片上，该集成电路具有第一区域以及第二区域；密封环，设置在该晶片上，以环绕该集成电路；以及导电层，至少覆盖该第一区域，其中，该导电层电连接该密封环。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于联华电子股份有限公司，未经联华电子股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810171235.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：测试样品及测试系统
- 下一篇：一种孔槽式的电容结构及制作方法
