[发明专利]一种针对红外探测器缺损像元的校正方法有效
| 申请号: | 201810167762.9 | 申请日: | 2018-02-28 |
| 公开(公告)号: | CN108426640B | 公开(公告)日: | 2019-05-10 |
| 发明(设计)人: | 高昆;顾海仑;宫辰;王广平;豆泽阳;王静;吴穹;秦军峰 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学 |
| 主分类号: | G01J5/00 | 分类号: | G01J5/00 |
| 代理公司: | 北京晟睿智杰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11603 | 代理人: | 于淼 |
| 地址: | 100081 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | 本申请公开了一种针对红外探测器缺损像元的校正方法,包括步骤:向FPGA红外系统输入红外图像并读取灰度值数据,进行基于标定的两点校正;对红外探测器进行探测器盲元检测,确定盲元的位置并存储于存储器中;确定要进行盲元补偿的位置和区域,在盲元附近确定区域A进行遍历;选取当前红外图像上的一个盲元,选择该盲元周围一定区域B的灰度值,与上一幅红外图像选取的区域A进行遍历比较,计算出每次遍历对应的方差,计算出最小的方差,将该最小对方差与设定的阈值T进行比较;对红外图像的全部盲元一一进行补偿,得到针对红外探测器缺损像元校正的最终图像。本发明的校正方法提高了图像对比度,抑制由于红外探测器缺陷对红外成像的影响。 | ||
| 搜索关键词: | 红外探测器 校正 红外图像 遍历 缺损 像元 方差 读取 灰度值数据 图像对比度 存储器 红外成像 红外系统 盲元检测 最终图像 标定 探测器 灰度 存储 申请 | ||
【主权项】:
1.一种针对红外探测器缺损像元的校正方法,其特征在于,包括步骤:通过A/D采样芯片向FPGA红外系统输入红外图像,并读取红外图像的灰度值数据,进行基于标定的两点校正;对红外探测器进行探测器盲元检测,确定盲元的位置:使用红外探测器对辐射均匀的黑体进行拍摄,得到一组响应数据,从而确定盲元的位置,并将所述位置存储于存储器中;确定要进行盲元补偿的位置和区域,在盲元附近确定区域A进行遍历;选取当前红外图像上的一个盲元,选择该盲元周围的一定区域B的灰度值,与上一幅红外图像选取的区域A进行遍历比较:在当前红外图像上选择盲元周围的区域B,区域B小于上一幅红外图像选取的区域A,区域B在上一幅红外图像选取的区域A上进行遍历,计算出每次遍历对应的方差,计算出最小方差,将该最小方差与设定的阈值T进行比较,若该最小方差小于阈值T,则表示上一幅红外图像选取的区域A上存在与区域B较为相似的图像,若该最小方差大于阈值T,则表示上一幅红外图像选取的区域A上不存在与区域B上相似的图像;若上一幅红外图像选取的区域A上存在与区域B相似的图像,则将上一幅图像盲元位置处的信息填补到当前图像对应的盲元位置处;若在上一幅红外图像选取的区域A上没有找到与区域B相似的图像,则使用盲元补偿方法,取当前图像盲元位置周围的均值填补于该盲元位置处;对红外图像的全部盲元一一进行补偿,得到针对红外探测器缺损像元校正的最终图像。
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