[发明专利]一种软件缺陷预测方法、装置、存储介质及电子设备在审
申请号: | 201810162377.5 | 申请日: | 2018-02-27 |
公开(公告)号: | CN108647138A | 公开(公告)日: | 2018-10-12 |
发明(设计)人: | 张雪莹;李瑞贤;杨云祥;郭静;吉祥;胡校成;唐先超;宋超;江逸楠;段锐;阳兵 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司电子科学研究院 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 工业和信息化部电子专利中心 11010 | 代理人: | 张然 |
地址: | 100041 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种软件缺陷预测方法、装置、存储介质及电子设备,该方法包括:按照第一预设选取规则在第一预设原始数据集中选择预定个数的样本数据,以得到第一原型数据集;按照第一预设距离算法计算第一预设原始数据集与第一原型数据集之间不相似性的第一数据集;将第一数据集中的数据输入到预设软件缺陷预测模型,以得到第一预设原始数据集对应软件的软件缺陷预测结果,其中,所示预设软件缺陷预测模型为根据预设不相似性构建的模型。通过运用本发明,能够根据不相似性确定软件是否存在缺陷,从根本上提升预测性能,准确率较高,用户体验较好,解决了现有技术的问题。 | ||
搜索关键词: | 预设 软件缺陷 原始数据集 存储介质 第一数据 电子设备 预测模型 原型数据 相似性确定 对应软件 算法计算 选取规则 样本数据 用户体验 预测结果 预测性能 预设距离 原始数据 预测 准确率 构建 | ||
【主权项】:
1.一种软件缺陷预测方法,其特征在于,包括:按照第一预设选取规则在第一预设原始数据集中选择预定个数的样本数据,以得到第一原型数据集;按照第一预设距离算法计算所述第一预设原始数据集与所述第一原型数据集之间不相似性的第一数据集;将所述第一数据集中的数据输入到预设软件缺陷预测模型,以得到所述第一预设原始数据集对应软件的软件缺陷预测结果,其中,所示预设软件缺陷预测模型为根据预设不相似性构建的模型。
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