[发明专利]兼容性测试装置及方法有效
| 申请号： | 201810158572.0 | 申请日： | 2018-02-26 |
| 公开（公告）号： | CN108414918B | 公开（公告）日： | 2021-04-23 |
| 发明（设计）人： | 肖光星 | 申请（专利权）人： | TCL华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人： | 黄威 |
| 地址： | 518132 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种兼容性测试装置及方法。所述兼容性测试装置包括：信号接口电路，用于与待测试的时序控制电路连接以及与与所述待测试的时序控制电路对应的显示屏连接；测试电路，用于与所述待测试的时序控制电路连接，并用于模拟待与所述待测试的时序控制电路装配的机芯板，以及用于测试所述待测试的时序控制电路与所模拟的所述机芯板的兼容性。本发明能实现对时序控制电路与待与显示面板装配为一体的机芯板的兼容性的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 兼容性 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种兼容性测试装置，其特征在于，所述兼容性测试装置包括：信号接口电路，用于与待测试的时序控制电路连接以及与与所述待测试的时序控制电路对应的显示屏连接；测试电路，用于与所述待测试的时序控制电路连接，并用于模拟待与所述待测试的时序控制电路装配的机芯板，以及用于测试所述待测试的时序控制电路与所模拟的所述机芯板的兼容性。
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