[发明专利]基于自适应光学的宽视场层析成像方法及装置有效
| 申请号： | 201810153902.7 | 申请日： | 2018-02-22 |
| 公开（公告）号： | CN108414096B | 公开（公告）日： | 2020-03-06 |
| 发明（设计）人： | 戴琼海;张元龙;孔令杰;谢浩 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01J11/00 | 分类号： | G01J11/00;G02B26/10;G02B27/28 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 黄德海 |
| 地址： | 10008*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于自适应光学的宽视场层析成像方法及装置，所述宽视场层析成像方法包括如下步骤：S1：发出超短脉冲的初始光束；S2：初始光束被分解得到分解光束；S3：将分解光束射向调制器，调制的不同的调制单元对应的分解光束中的频率分量不同；S4：将从调制器射出的光束射向测量装置，测量装置测得在焦面处的波前信息；S5：提取出各频率分量的最优相位值，将该最优相位值反馈至调制器，使不同的调制单元以不同的速率增加其相位；S6：重复循环从S4到S5的过程，直至测量装置测得在焦面处的波前信息达到预定状态。根据本发明实施例的基于自适应光学的宽视场层析成像方法实现了高速、精准测量并补偿相位畸变。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 自适应 光学 视场 层析 成像 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种基于自适应光学的宽视场层析成像方法，其特征在于，包括如下步骤：S1：发出超短脉冲的初始光束，所述初始光束为偏振光束；S2：对所述初始光束进行分解得到分解光束，所述分解光束在空间中各个频率分量分离；S3：将所述分解光束射向调制器，所述调制器具有多个调制单元，不同的所述调制单元对应的所述分解光束中的频率分量不同；S4：将从所述调制器射出的光束射向测量装置，所述测量装置测得在焦面处的波前信息；S5：通过所述波前信息提取出各频率分量的最优相位值，将该最优相位值反馈至所述调制器，使不同的所述调制单元以不同的速率增加其相位；S6：重复循环从S4到S5的过程，直至所述测量装置测得在焦面处的波前信息达到预定状态。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学，未经清华大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810153902.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种光子数分辨测量装置及方法
- 下一篇：一种测试双光子材料阈值的方法及装置
