[发明专利]外延结构及制作GaAs基单管器件和GaAs基片上集成变频电路的方法有效
| 申请号: | 201810142345.9 | 申请日: | 2018-02-11 |
| 公开(公告)号: | CN108364950B | 公开(公告)日: | 2020-11-10 |
| 发明(设计)人: | 曾建平;李倩;安宁;谭为 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院电子工程研究所 |
| 主分类号: | H01L27/06 | 分类号: | H01L27/06;H01L21/8252 |
| 代理公司: | 成都顶峰专利事务所(普通合伙) 51224 | 代理人: | 何红信 |
| 地址: | 621000*** | 国省代码: | 四川;51 |
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| 摘要: | 本发明提供了一种外延结构及制作GaAs基单管器件和GaAs基片上集成变频电路的方法,旨在解决现有的工艺比较复杂的问题。一种外延结构,从下至上依次包括衬底、缓冲层半导体、选择性腐蚀层、薄膜支撑层、高阻隔离层、重掺杂n+GaAs层和低掺杂n‑GaAs层。正面制作GaAs基单管器件的方法:A1、片上肖特基器件的制作步骤;B1、对片上肖特基器件进行隔离;C1、衬底脱落。GaAs基片上集成变频电路的制作方法:A2、片上肖特基器件制作步骤。B2、去除重掺杂n+GaAs层和低掺杂n‑GaAs层。C2、集成无源器件。D2、对片上肖特基器件进行隔离。E2、通过空气桥工艺和电镀工艺制作梁式引线。F2、衬底脱落。本发明工艺简化,节约了成本。 | ||
| 搜索关键词: | 外延 结构 制作 gaas 基单管 器件 基片上 集成 变频 电路 方法 | ||
【主权项】:
1.一种正面工艺制作GaAs基单管器件和片上集成变频电路的外延结构,其特征是:从下至上依次包括衬底(11)、缓冲层半导体(12)、选择性腐蚀层(13)、薄膜支撑层(14)、高阻隔离层(15)、重掺杂n+GaAs层(16)和低掺杂n‐GaAs层(17)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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