[发明专利]一种检测香梨公母的高光谱成像检测方法及装置有效

专利信息
申请号: 201810118478.2 申请日: 2018-02-06
公开(公告)号: CN110118735B 公开(公告)日: 2020-08-25
发明(设计)人: 苑严伟;李亚硕;王烨;毛文华;吕程序;祁雁楠;赵博 申请(专利权)人: 中国农业机械化科学研究院
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31;G01N5/00;G01B11/24
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 梁挥;尚群
地址: 100083 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种检测香梨公母的高光谱成像检测方法及装置,包括:采集信息,通过一高光谱成像仪采集待测香梨的高光谱信息,并提取光谱信息和图像信息;计算香梨石细胞含量,接收该光谱信息,并将该光谱信息输入一香梨果肉石细胞含量高光谱预测模型,得到该待测香梨的香梨果肉石细胞含量预测值;计算香梨花萼圆度,接收该图像信息,采用花萼特征区域提取和圆度计算算法得到该待测香梨的花萼圆度;检测香梨公母,接收该香梨果肉石细胞含量预测值和该花萼圆度,并将该香梨果肉石细胞含量预测值和该花萼圆度输入一训练后的线性支持向量机进行该待测香梨的公母分类,得到该公香梨或母香梨的检测结果。本发明还公开了采用上述检测方法的检测装置。
搜索关键词: 一种 检测 香梨公母 光谱 成像 方法 装置
【主权项】:
1.一种检测香梨公母的高光谱成像检测方法,其特征在于,基于石细胞含量和花萼圆度对香梨进行检测并分类为公香梨或母香梨,包括如下步骤:S100、采集信息,通过一高光谱成像仪采集待测香梨的高光谱信息,并提取所述待测香梨的光谱信息和图像信息;S200、计算香梨石细胞含量,接收所述光谱信息,并将所述光谱信息输入一香梨果肉石细胞含量高光谱预测模型,得到所述待测香梨的香梨果肉石细胞含量预测值;S300、计算香梨花萼圆度,接收所述图像信息,采用花萼特征区域提取和圆度计算算法得到所述待测香梨的花萼圆度;以及S400、检测香梨公母,接收所述香梨果肉石细胞含量预测值和所述花萼圆度,并将所述香梨果肉石细胞含量预测值和所述花萼圆度输入一训练后的线性支持向量机进行所述待测香梨的公母分类,得到所述公香梨或母香梨的检测结果。
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