[发明专利]一种基于ICA稀疏表示与SOM的失真图像质量评价方法有效
| 申请号： | 201810107723.X | 申请日： | 2018-02-02 |
| 公开（公告）号： | CN108428226B | 公开（公告）日： | 2020-06-16 |
| 发明（设计）人： | 王春哲;安军社;姜秀杰;熊蔚明;李杰;崔天舒;崔洲涓;祝平;张羽丰 | 申请（专利权）人： | 中国科学院国家空间科学中心 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00 |
| 代理公司： | 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 | 代理人： | 陈琳琳;王蔚 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于ICA稀疏表示与SOM的失真图像质量评价方法，所述方法包括：步骤1)对参考图像及待测图像使用独立变量分析ICA的稀疏表示，得到各自图像的稀疏表示信息；步骤2)计算ICA稀疏表示后的参考图像与待测图像之间的结构相似度SSIM值；步骤3)绘制出结构相似度SSIM值与主观差异评分DMOS值的散点图；步骤4)使用自组织映射SOM算法对散点图数据进行聚类：分布比较集中的数据分成一类，其余划分成另一类；步骤5)对每一类数据使用交叉验证回归算法，将步骤4)的SSIM值进行回归映射得到主观差异评分DMOS值；步骤6)计算两类数据的DMOS值与实际数据库中DMOS值之间的误差值；步骤7)将得到的误差值进行加权平均，作为最终图像质量评价的指标值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 ica 稀疏 表示 som 失真 图像 质量 评价 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于ICA稀疏表示与SOM的失真图像质量评价方法，所述方法包括：步骤1)对参考图像及待测图像使用独立变量分析ICA的稀疏表示，得到各自图像的稀疏表示信息；步骤2)计算ICA稀疏表示后的参考图像与待测图像之间的结构相似度SSIM值；步骤3)绘制出结构相似度SSIM值与主观差异评分DMOS值的散点图；步骤4)使用自组织映射SOM算法对散点图数据进行聚类：分布比较集中的数据分成一类，其余划分成另一类；步骤5)对每一类数据使用交叉验证回归算法，选取合适的回归函数，将步骤4)的SSIM值进行回归映射得到主观差异评分DMOS值；步骤6)计算步骤5)中两类数据的DMOS值与实际数据库中DMOS值之间的误差值；步骤7)将步骤6)得到的误差值进行加权平均，作为最终图像质量评价的指标值。
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