[发明专利]高精度的薄膜电弱点测试仪有效
申请号: | 201810104242.3 | 申请日: | 2018-02-02 |
公开(公告)号: | CN108226729B | 公开(公告)日: | 2020-02-18 |
发明(设计)人: | 钱锦绣 | 申请(专利权)人: | 钱立文 |
主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 244000 安徽省*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明一种高精度的薄膜电弱点测试仪,包括机架(1)、通过铜辊轴(3)安装在机架(1)上的铜辊(2)、以及设置在机架(1)一侧的与铜辊轴(3)可滑动电连接的电极总成;所述铜辊轴(3)通过铜辊轴承(4)、铜辊轴承绝缘座(5)呈绝缘的与铜辊轴承座(6)可转动连接,所述铜辊轴承座(6)通过铜辊轴承座固定螺丝(7)与机架(1)固连;所述电极总成包括金属底座(8),及对称固设在金属底座(8)上的电极导套(9)、压簧卡销(10)及接线柱(11)。本发明采样电阻一端与电极总成的接线柱(11)电连接,另一端接地,测试精度高。 | ||
搜索关键词: | 高精度 薄膜 弱点 测试仪 | ||
【主权项】:
1.一种高精度的薄膜电弱点测试仪,包括机架(1),通过铜辊轴(3)安装在机架(1)上的铜辊(2),以及设置在机架(1)一侧的与铜辊轴(3)可滑动电连接的电极总成;所述铜辊轴(3)通过铜辊轴承(4)、铜辊轴承绝缘座(5)呈绝缘的与铜辊轴承座(6)可转动连接,所述铜辊轴承座(6)通过铜辊轴承座固定螺丝(7)与机架(1)固连。
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