[发明专利]通过色谱重建检测低含量LCMS组分在审
| 申请号： | 201810088235.9 | 申请日： | 2018-01-30 |
| 公开（公告）号： | CN108375643A | 公开（公告）日： | 2018-08-07 |
| 发明（设计）人： | I·莫塔什米;T·斯特拉顿;M·A·布兰克 | 申请（专利权）人： | 萨默费尼根有限公司 |
| 主分类号： | G01N30/06 | 分类号： | G01N30/06;G01N30/88 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 陈洁;姬利永 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种用于分析样本的方法可包含获得对应于样本内的高丰度化合物的滞留时间和质荷比范围的排除列表；使用色谱柱分离所述样本的组分；使用质量分析器获得第一质量数据集，同时排除在所述排除列表的滞留时间和质荷比范围内的离子；产生所述第一质量数据集的特征的包含列表；将对应于所述包含列表的特征的离子碎片化；从所述碎片化的离子获得第二质量数据集；以及基于所述第二质量数据集识别和/或量化低丰度化合物。 | ||
| 搜索关键词： | 质量数据 样本 质荷比 离子 滞留 色谱柱分离 质量分析器 离子碎片 重建检测 低丰度 高丰度 碎片化 色谱 量化 分析 | ||
【主权项】：
1.一种用于分析样本的方法，包括：执行全谱扫描以识别对应于样本内的高丰度化合物的滞留时间和质荷比范围；产生所述滞留时间和质荷比范围的排除列表使用色谱柱分离所述样本的组分；使用所述质量分析器获得第一质量数据集，同时排除发射在所述排除列表的滞留时间和质荷比范围内的离子；产生所述第一质量数据集的特征的包含列表，所述包含列表包含所述全谱扫描中未检测到的低丰度化合物；使对应于所述包含列表的特征的离子碎片化；从所述碎片化的离子获得第二质量数据集；以及基于所述第二质量数据集识别和/或量化所述低丰度化合物。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于萨默费尼根有限公司，未经萨默费尼根有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810088235.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
