[发明专利]赋形双反射面天线副面调整方法和装置有效

专利信息
申请号: 201810085769.6 申请日: 2018-01-29
公开(公告)号: CN108281790B 公开(公告)日: 2020-07-10
发明(设计)人: 项斌斌;王娜;王从思;林上民;连培园;王伟;陈卯蒸;李锐;薛飞 申请(专利权)人: 中国科学院新疆天文台
主分类号: H01Q3/34 分类号: H01Q3/34;H01Q15/14;H01Q19/12;G06F30/392
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 王文红
地址: 830000 新疆维吾尔*** 国省代码: 新疆;65
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摘要: 发明实施例提供一种赋形双反射面天线副面调整方法和装置,其中,通过对赋形双反射面天线的主反射面的精确化公式描述,并基于精确公式化描述后的主反射面参数和向量参数迭代法实现对副面位置的调整,能够优化副面位置,且使得赋形双反射面天线的结构变形得到补偿,有效提高天线效率。
搜索关键词: 赋形 反射 天线 调整 方法 装置
【主权项】:
1.一种赋形双反射面天线副面调整方法,其特征在于,包括:对赋形双反射面的主反射面进行精确公式化描述,并基于精确公式化描述后的主反射面参数,对副面位置调整参数进行初始化;基于所述副面位置调整参数计算副面位置调整引起的相位差,并根据所述相位差计算附加误差波束;获取实测远场波束和理想远场波束,并根据该实测远场波束、理想远场波束和所述附加误差波束计算目标函数值;判断所述目标函数值是否满足预设值,若满足,则将所述副面位置调整参数作为最佳调整参数,并基于该最佳调整参数对双反射面天线中的副面位置进行调整。
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