[发明专利]一种LED芯片检测设备及检测方法在审
| 申请号： | 201810085369.5 | 申请日： | 2018-01-29 |
| 公开（公告）号： | CN108246657A | 公开（公告）日： | 2018-07-06 |
| 发明（设计）人： | 刘天明;邓光洪;杨冲;王洪贯 | 申请（专利权）人： | 木林森股份有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/342 | 分类号： | B07C5/342;B07C5/344;B07C5/36;G01N21/95 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 黄华莲;郝传鑫 |
| 地址： | 528415 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种LED芯片检测设备及检测方法，包括高能激发装置、图像采集装置以及结果输出装置；所述高能激发装置包括用于发射激励光束的激发源、用于放置待检测芯片的载物台以及框架，所述激发源设于所述载物台下方并朝向所述载物台，所述载物台上设有供所述激励光束通过的通道；所述图像采集装置包括用于获取图像的采集头。本发明的所述激励光束照射到待检测LED芯片后，所述LED芯片的量子阱吸收激励光束的能量而发光，若所述LED芯片存在缺陷，则缺陷处发弱光或者不发光，所述图像采集装置获取图像，然后反馈信号至所述结果输出装置进行检测和标记，可有效降低检测成本以及提高检测速度，实现准确且效率高的芯片质量检测。 | ||
| 搜索关键词： | 激励光束 检测 图像采集装置 结果输出装置 高能激发 获取图像 激发源 发光 反馈信号 检测芯片 质量检测 采集头 量子阱 缺陷处 载物台 弱光 照射 芯片 发射 吸收 | ||
【主权项】：
1.一种LED芯片检测设备，其特征在于，包括能够发射激励光束的高能激发装置、位于所述高能激发装置上方的图像采集装置以及与所述图像采集装置连接的结果输出装置；所述高能激发装置包括用于发射激励光束的激发源、用于放置待检测芯片的载物台以及用于支撑所述载物台的框架，所述激发源设于所述载物台下方并朝向所述载物台，所述载物台上设有供所述激励光束通过的通道；所述图像采集装置包括用于获取图像的采集头，所述采集头朝向所述载物台设置。
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