[发明专利]一种光学弹性测试方法有效

专利信息
申请号: 201810081284.X 申请日: 2018-01-29
公开(公告)号: CN108445077B 公开(公告)日: 2022-10-14
发明(设计)人: 孙翠茹;张小艺;陈金龙 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01N29/04 分类号: G01N29/04;G01N29/07;G01N21/00
代理公司: 北京东方灵盾知识产权代理有限公司 11506 代理人: 张丛
地址: 300354 天津市津*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明提供了一种光学弹性测试方法,包括以下步骤:产生以激励点为中心向四周传播的剪切波并在激励点附近的待测物体表面任一点处采集光学相干断层扫描信号;处理所采集的光学相干断层扫描信号以获取所述剪切波在待测物体中的传播速度;利用所述传播速度计算出待测物体的弹性模量;其优势在于,加载幅度小且时间短,不会损坏待测物体;通过相位分析提取剪切波的传播时间,可以对剪切波的传播速度进行准确计算,由此得到待测对象的弹性模量值,从而大幅减小了计算量并缩短了测试时间。
搜索关键词: 一种 光学 弹性 测试 方法
【主权项】:
1.一种光学弹性测试方法,其特征在于,包括:产生以待测物体表面激励点为中心向四周传播的剪切波并在激励点附近的待测物体表面任一检测点处采集光学相干断层扫描信号;处理所采集的光学相干断层扫描信号以获取所述剪切波在待测物体中的传播速度;利用所述传播速度计算出待测物体的弹性模量。
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