[发明专利]一种塑封光电耦合器贮存寿命预测方法

摘要

本发明提供一种塑封光电耦合器贮存寿命预测方法，它有以下七个步骤：一、确定敏感参数；二、明确物理加速模型；三、确定保持失效机理不变的温度应力；四、开展加速寿命试验；五、试验数据预处理；六、估计物理模型中参数值；七、计算贮存应力下，塑封光耦的寿命。本发明构思新颖，程序简约，可计算贮存状态下塑封光耦的寿命，反应失效机理，可节约成本，解决传统寿命预测不能保证失效机理一致的问题，它在元器件贮存寿命评价领域有广阔的应用前景。

主权项

1.一种塑封光电耦合器贮存寿命预测方法，具体的方法步骤如下：/n步骤一、确定敏感参数，为了确定塑封光耦的敏感参数，首先开展步进应力预试验；选取塑封光耦试验样品，在开展试验前，测量性能参数的初始值，之后放入高温试验箱进行高温存储；设定初始温度，每隔一段时间取出来再测试一次电性能参数，如果器件没有失效，温度升高15℃，继续进行试验，直到器件失效为止，从而确定敏感参数；/n步骤二、明确物理加速模型，由于单个三极管的寿命服从对数正态分布，由多个三级管组成的塑封光耦寿命服从威布尔分布，物理加速模型为lnη＝α+β/T；/n步骤三、确定保持失效机理不变的温度应力，加速应力不可以过小，应力过小加速周期长，费用成本高，也不宜过大，应力过大会激发出器件潜在失效机理，改变器件失效的原因，由此得到的失效数据也不能用于计算器件的贮存寿命，所以找到保持器件失效机理不变的温度应力是开展加速寿命试验必不可少的环节；/n塑封光耦寿命服从威布尔分布，特征寿命η表示为：/n