[发明专利]一种精密离焦检测装置及检测方法有效

专利信息
申请号: 201810049720.5 申请日: 2018-01-18
公开(公告)号: CN108332679B 公开(公告)日: 2020-11-10
发明(设计)人: 白震;魏劲松 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01B11/14 分类号: G01B11/14
代理公司: 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 代理人: 张宁展
地址: 201800 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种精密离焦检测装置及检测方法,包括离焦检测光路的构建,离焦检测算法的实现,对离焦量的检测和补偿,数据的记录等步骤。根据系统的精度和动态范围的需求,设计不同的光路,选择不同的显微物镜和柱面镜,通过改变显微物镜,两个柱面镜,四象限探测器之间的距离,来达到不同的精度和动态范围。当样品离焦时,反射到探测器上的光斑形状发生变化,形成的离焦误差信号发生变化,通过离焦误差信号来与离焦量的关系来得到精确的离焦量。在激光直写光刻,大面积显微共聚焦扫描成像领域的离焦检测中有着很广泛的应用,可以精确的对系统运行过程中的离焦量进行实时检测和补偿。本发明简单实用,操作便捷,具有很高的应用价值。
搜索关键词: 一种 精密 检测 装置 方法
【主权项】:
1.一种精密离焦检测装置,其特征在于,包括激光器(1)、1/2波片(2)、偏振分光棱镜(3)、1/4波片(4)、显微物镜(5)、柱面镜CLx(7)、柱面镜CLy(8)、四象限探测器(9)、压电陶瓷执行器(10)、压电陶瓷控制器(11)、计算机(12)和控制器(13);所述显微物镜(5)固定在所述压电陶瓷执行器(10)上;所述激光器(1)发出光依次经过所述1/2波片(2)和偏振分光棱镜(3),经该偏振分光棱镜(3)透射后,经1/4波片(4)入射到显微物镜(5),最后聚焦到铝膜样品(6)上,经过铝膜样品(6)反射,沿原入射光路返回至偏振分光棱镜(3),经该偏振分光棱镜(3)反射后,依次经柱面镜CLx(7)和柱面镜CLy(8)汇聚到四象限探测器(9)上,该四象限探测器(9)的输出端与所述控制器(13)的输入端相连,且该控制器(13)与所述计算机(12)进行通讯;所述压电陶瓷控制器(11)的输出端与所述压电陶瓷执行器(10)的输入端相连,且该压电陶瓷控制器(11)与所述计算机(12)进行通讯。
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