[发明专利]用于数据储存纠错码校验提高短码字信息校验率的方法在审
| 申请号: | 201810030354.9 | 申请日: | 2018-01-12 |
| 公开(公告)号: | CN108595289A | 公开(公告)日: | 2018-09-28 |
| 发明(设计)人: | 陈育鸣;李庭育;洪振洲;魏智汎 | 申请(专利权)人: | 江苏华存电子科技有限公司 |
| 主分类号: | G06F11/10 | 分类号: | G06F11/10 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 226300 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | 本发明公开了一种用于数据储存纠错码校验提高短码字信息校验率的方法,本发明使用较长码字码率,利用纠错码硬体补齐原始短码字信息长度充分利用除存载体装置空间,使其可以使用较长码字码率来进行检核位的生成与校验. 因为长码字码率的纠错字元与信息位比特数都比较多,对于校验效果会有明显增强;而使用硬体补足的假信息皆为已知且正确无加错信息,故长码字码率加上较长的校验位信息长度,可以支持的错误数可以全部使用在原始短信息部份码字,故对其保护能力会有相当程度的增强。 | ||
| 搜索关键词: | 校验 长码 字码 纠错码 字信息 短码 数据储存 硬体 校验位信息 保护能力 载体装置 比特数 短信息 假信息 信息位 补齐 纠错 码字 字元 | ||
【主权项】:
1.用于数据储存纠错码校验提高短码字信息校验率的方法,其特征在于:包括主控芯片(1)和储存介质(2),所述主控芯片(1)内设有码长控制器(3)和编解码单元(4),码长控制器(3)连接编解码单元(4),码长控制器(3)对编解码单元(4)进行参数设置,所述主控芯片(1)通过总线连接储存介质(2)。
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