[发明专利]一种产品电磁兼容状况快速评估和质量控制的方法在审
申请号: | 201810012675.6 | 申请日: | 2018-01-06 |
公开(公告)号: | CN108562807A | 公开(公告)日: | 2018-09-21 |
发明(设计)人: | 吴伟;吴跃佳 | 申请(专利权)人: | 吴伟 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R31/01 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 325000 浙江省温*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 一种产品电磁兼容状况快速评估和质量控制的方法。该方法包括:选择参考样品并获取参考样品的频谱;选择被评估产品并获取被评估产品的频谱;比较参考样品和评估产品的频谱,判断评估产品的电磁兼容状况。其优点在于:对产品的EMC状况快速评估可以在生产车间进行,节省了评估费用;对批量产品生产过程中产品的每只必检有利于产品EMC质量控制;评估结果不仅反映批量产品的EMC状况,而且反映产品质量,为批量产品的质量控制提供了一种新的手段。 | ||
搜索关键词: | 评估产品 质量控制 参考样品 电磁兼容 快速评估 频谱 批量产品 批量产品生产 评估结果 生产车间 评估 | ||
【主权项】:
1.一种产品电磁兼容状况快速评估方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:选择参考样品并获取参考样品的频谱;选择被评估产品并获取被评估产品的频谱;比较参考样品和评估产品的频谱,判断评估产品的电磁兼容状况。
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