[发明专利]一种产品电磁兼容状况快速评估和质量控制的方法在审

专利信息
申请号: 201810012675.6 申请日: 2018-01-06
公开(公告)号: CN108562807A 公开(公告)日: 2018-09-21
发明(设计)人: 吴伟;吴跃佳 申请(专利权)人: 吴伟
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R31/01
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 325000 浙江省温*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 一种产品电磁兼容状况快速评估和质量控制的方法。该方法包括:选择参考样品并获取参考样品的频谱;选择被评估产品并获取被评估产品的频谱;比较参考样品和评估产品的频谱,判断评估产品的电磁兼容状况。其优点在于:对产品的EMC状况快速评估可以在生产车间进行,节省了评估费用;对批量产品生产过程中产品的每只必检有利于产品EMC质量控制;评估结果不仅反映批量产品的EMC状况,而且反映产品质量,为批量产品的质量控制提供了一种新的手段。
搜索关键词: 评估产品 质量控制 参考样品 电磁兼容 快速评估 频谱 批量产品 批量产品生产 评估结果 生产车间 评估
【主权项】:
1.一种产品电磁兼容状况快速评估方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:选择参考样品并获取参考样品的频谱;选择被评估产品并获取被评估产品的频谱;比较参考样品和评估产品的频谱,判断评估产品的电磁兼容状况。
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