[发明专利]制造和使用X射线检测器的方法在审
| 申请号： | 201780093158.X | 申请日： | 2017-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN110914714A | 公开（公告）日： | 2020-03-24 |
| 发明（设计）人： | 曹培炎;刘雨润 | 申请（专利权）人： | 深圳帧观德芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/24 | 分类号： | G01T1/24 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518071 广东省深圳市南山区桃源街道塘朗*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本文公开了制造和使用适于X射线检测的吸收单元阵列的方法以及包括这种吸收单元阵列的检测器。制造吸收单元阵列(410)的方法可包括在基板(400)上形成吸收单元阵列(410A)，并且在从基板(400)分离吸收单元阵列(410)之后形成保护环(431A，431B)，其包围吸收单元阵列(410)的多于一个吸收单元(420)；或者可包括在从基板(400)分离出一部分之后在基板(400)的该部分上形成多个吸收单元(420)，以及包围多于一个吸收单元(420)的保护环(431B)。使用吸收单元阵列(410)的方法可包括通过施加电压将吸收单元阵列(410)的一些吸收单元(420)用作保护环(431B)。适于X射线检测的检测器(100)包括吸收层(110)和电子层(120)，其中吸收层(110)包括吸收单元阵列(410)。 | ||
| 搜索关键词： | 制造 使用 射线 检测器 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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