[发明专利]表面增强发光系统、方法和表面增强发光分析物支持物有效
申请号: | 201780092815.9 | 申请日: | 2017-07-17 |
公开(公告)号: | CN110832304B | 公开(公告)日: | 2022-08-30 |
发明(设计)人: | R·N·森古普塔;A·罗卡斯 | 申请(专利权)人: | 惠普发展公司;有限责任合伙企业 |
主分类号: | G01N21/62 | 分类号: | G01N21/62 |
代理公司: | 北京市汉坤律师事务所 11602 | 代理人: | 魏小薇;吴丽丽 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种表面增强发光系统可以包括激光器和用于输出控制信号的控制器,所述控制信号使激光器辐照暴露于分析物之前的等离子体表面,同时维持暴露于分析物之前的等离子体表面的轮廓。 | ||
搜索关键词: | 表面 增强 发光 系统 方法 分析 支持 | ||
【主权项】:
暂无信息
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