[发明专利]测量装置和测量方法有效
| 申请号： | 201780089601.6 | 申请日： | 2017-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN110537351B | 公开（公告）日： | 2022-05-06 |
| 发明（设计）人： | 真木翔太郎;铃木秀俊;王立磊 | 申请（专利权）人： | 松下电器（美国）知识产权公司 |
| 主分类号： | H04L25/03 | 分类号： | H04L25/03 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 张健 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 在考虑CPE/ICI校正的同时适当地确定EVM测量值。在测量装置(300)中，EVM测量单元(305)测量从发送装置发送的信号的调制质量。在接收装置中需要与发送装置的相位噪声有关的校正的情况下，EVM确定单元(306)确定调制质量的测量值是否等于或小于第一要求值。这里的第一要求值高于在接收装置中不需要与发送装置的相位噪声有关的校正的情况下在测量值的确定中使用的第二要求值。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种测量装置，包括：/n测量电路，测量从发送装置发送的信号的调制质量；以及/n确定电路，在接收装置中需要与发送装置的相位噪声有关的校正的情况下，确定调制质量的测量值是否等于或小于第一要求值，所述第一要求值高于在接收装置中不需要与发送装置的相位噪声有关的校正的情况下在测量值的确定中使用的第二要求值。/n
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