[发明专利]测定装置、测定方法有效
申请号: | 201780086116.3 | 申请日: | 2017-02-14 |
公开(公告)号: | CN110268816B | 公开(公告)日: | 2021-03-16 |
发明(设计)人: | 泽田利幸 | 申请(专利权)人: | 株式会社富士 |
主分类号: | H05K13/08 | 分类号: | H05K13/08;G01R31/00 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 杨青;安翔 |
地址: | 日本爱知*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 在测定装置中,即使假设元件小,也能够良好地测定电气特性。在本测定装置中,元件保持部的至少一部分设为由防带电材料形成的防带电部。由于防带电部的表面电阻大,因此在元件由防带电部保持的状态下,能够测定该元件的电气特性。其结果是,即使假设元件小,也能够防止元件的飞散,能够良好地测定电气特性。 | ||
搜索关键词: | 测定 装置 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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