[发明专利]光学颗粒传感器模块有效
申请号: | 201780085969.5 | 申请日: | 2017-12-01 |
公开(公告)号: | CN110300884B | 公开(公告)日: | 2022-03-29 |
发明(设计)人: | J·H·M·斯普鲁伊特;A·M·范德莱;P·T·于特;H·J·门希;J·W·黑尔米格;R·奥温克 | 申请(专利权)人: | 通快光电器件有限公司 |
主分类号: | G01N15/06 | 分类号: | G01N15/06;G01N15/14 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 周家新 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明描述一种激光传感器模块。所述激光传感器模块包括:适用于发射第一测量光束(111')的至少第一激光器(111)和适用于发射第二测量光束(112')的至少第二激光器(112);光学装置(150),其设置用于至少将所述第一测量光束(111')聚焦到第一测量区(161),所述光学装置还设置用于至少将所述第二测量光束(112')聚焦到第二测量区(162),其中,所述光学装置的特征在于关于所述第一测量光束(111')的第一数值孔径和关于所述第二测量光束(112')的第二数值孔径,其中,所述第一数值孔径和所述第二数值孔径设置用以在参考速度下检测预定的最小颗粒尺寸,其中,所述参考速度在包括所述参考速度的0.01m/s与7m/s之间的预定的速度范围内进行选择,其中,所述第一测量光束(111')和所述第二测量光束(112')相互围成10°和160°之间的角度;至少第一检测器(121),其适用于确定所述第一激光器(111)的第一激光器腔内的第一光波的第一自混合干涉信号;至少第二检测器(122),其适用于确定所述第二激光器(112)的第二激光器腔内的第二光波的第二自混合干涉信号;分析处理装置(140),其中,所述分析处理装置(140)适用于接收由至少第一检测器(121)和第二检测器(122)响应于所确定的自混合干涉信号而产生的检测信号,其中,所述分析处理装置(140)还适用于通过在预定的时间段内接收到的检测信号来确定由所述第一检测器(121)检测到的颗粒的至少第一平均速度和由所述第二检测器(122)检测到的颗粒的至少第二平均速度,其中,所述分析处理装置(140)还适用于基于由所述第一检测器(121)在预定的时间段内提供的检测信号来确定颗粒的至少第一数量并且基于由所述第二检测器(122)在预定的时间段内提供的检测信号来确定颗粒的至少第二数量,其中,所述分析处理装置(140)还适用于基于平均颗粒速度来确定颗粒密度,所述平均颗粒速度至少通过所述第一平均速度和所述第二平均速度、所述颗粒的至少第一数量和所述颗粒的至少第二数量来确定。本发明还涉及一种颗粒密度检测的方法和一种相应的计算机程序产品。本发明还涉及一种包括这样的激光传感器模块(100)的移动通信装置(190)。 | ||
搜索关键词: | 光学 颗粒 传感器 模块 | ||
【主权项】:
1.一种用于检测小颗粒的颗粒密度的激光传感器模块(100),所述小颗粒具有0.05μm与10μm之间的颗粒尺寸,所述激光传感器模块包括:至少第一激光器(111)和至少第二激光器(112),第一激光器适用于发射第一测量光束(111'),第二激光器适用于发射第二测量光束(112');光学装置(150),所述光学装置设置用于至少将所述第一测量光束(111')聚焦到第一测量区(161),所述光学装置还设置用于至少将所述第二测量光束(112')聚焦到第二测量区(162),其中,所述光学装置的特征在于关于所述第一测量光束(111')的第一数值孔径和关于所述第二测量光束(112')的第二数值孔径,其中,所述第一数值孔径和所述第二数值孔径设置用以在参考速度下检测预定的最小颗粒尺寸,其中,所述参考速度在包括所述参考速度的0.01m/s与7m/s之间的预定的速度范围内进行选择,其中,所述第一测量光束(111')和所述第二测量光束(112')相互围成10°和160°之间的角度φ;至少第一检测器(121),第一检测器适用于确定所述第一激光器(111)的第一激光器腔内的第一光波的第一自混合干涉信号;至少第二检测器(122),第二检测器适用于确定所述第二激光器(112)的第二激光器腔内的第二光波的第二自混合干涉信号;分析处理装置(140),其中,所述分析处理装置(140)适用于接收由至少第一检测器(121)和第二检测器(122)响应于所确定的自混合干涉信号而产生的检测信号,其中,所述分析处理装置(140)还适用于通过在预定的时间段内接收到的检测信号来确定由所述第一检测器(121)检测到的颗粒的至少第一平均速度和由所述第二检测器(122)检测到的颗粒的至少第二平均速度,其中,所述分析处理装置(140)还适用于基于由所述第一检测器(121)在预定的时间段内提供的检测信号来确定颗粒的至少第一数量并且基于由所述第二检测器(122)在预定的时间段内提供的检测信号来确定颗粒的至少第二数量,其中,所述分析处理装置(140)还适用于基于平均颗粒速度来确定颗粒密度,所述平均颗粒速度至少通过所述第一平均速度和所述第二平均速度、颗粒的至少第一数量和颗粒的至少第二数量来确定。
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