[发明专利]分析物检测装置和检测分析物的方法有效
| 申请号： | 201780085569.4 | 申请日： | 2017-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN110573846B | 公开（公告）日： | 2022-08-19 |
| 发明（设计）人： | 斯特凡·奥弗森·班克 | 申请（专利权）人： | RSP系统公司 |
| 主分类号： | G01J3/02 | 分类号： | G01J3/02;G01J3/12;G01J3/18;G01J3/28;G01J3/36;G01J3/44 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 曾贤伟;许静 |
| 地址： | 丹麦*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种分析物检测装置和方法，所述装置包括：辐射源，所述辐射源用于照射样本；接收器，所述接收器接收响应于从所述源接收的辐射而从所述样本发送回的辐射的光学拉曼光谱，其中，所述接收器包括多个不同类型的分析设备，每个分析设备布置成接收从所述样本发送回的所接收的光谱的所选部分。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种分析物检测装置，所述装置包括：/n辐射源，所述辐射源用于照射样本；/n接收器，所述接收器接收响应于从所述源接收的辐射而从所述样本发送回的辐射的光学拉曼光谱，/n其中，所述接收器包括多个不同类型的分析设备，每个分析设备布置成接收从所述样本发送回的接收拉曼光谱的所选部分。/n
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