[发明专利]用于增强光热成像和光谱的方法和设备有效
| 申请号： | 201780084916.1 | 申请日： | 2017-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN110300883B | 公开（公告）日： | 2022-05-10 |
| 发明（设计）人： | C·普拉特;K·科约勒;R·谢蒂 | 申请（专利权）人： | 光热光谱股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/02 | 分类号： | G01J3/02;G01J3/42;G01N21/65;G01J3/427;G01J3/44 |
| 代理公司： | 广州川墨知识产权代理事务所(普通合伙) 44485 | 代理人： | 龙亮华 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 利用结合分析和包括具有共聚焦显微镜的双光束光热谱、拉曼光谱、荧光检测、各种真空分析技术和/或质谱的成像技术的多功能平台，对纳米级到毫米级以上的样品进行化学光谱分析的系统。在本文描述的实施例中，双光束系统的光束用于加热和感测。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 增强 光热 成像 光谱 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种用于分析样品的方法，所述方法包括：a.用红外辐射光束照射样品区域；b.用具有比红外辐射光束短的波长的探测光束照射样品区域的至少一个子区域；c.分析从样品收集的探测光，以获得指示样品的子区域的红外吸收的测量值；以及d.分析从样品收集的探测光，以获得指示样品的子区域的拉曼散射的测量值。
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