[发明专利]测定装置以及测定方法有效
| 申请号： | 201780082945.4 | 申请日： | 2017-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN110168347B | 公开（公告）日： | 2022-03-25 |
| 发明（设计）人： | 高须良三 | 申请（专利权）人： | 富士通株式会社 |
| 主分类号： | G01N15/06 | 分类号： | G01N15/06 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 舒艳君;王秀辉 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明是测定装置的发明，以测定装置的小型化或者降低成本为课题，其特征在于，该测定装置具备测定气体中的粒子的数量浓度的数量浓度测定器(20)、测定上述气体的湿度的湿度测定器(24)、以及测定上述气体中的特定气体的浓度的气体浓度测定器(22)，并基于测定出的数量浓度、测定出的湿度以及测定出的特定气体的浓度、和预先求出的数量浓度、湿度和特定气体的浓度与上述气体中的粒子的质量浓度的相关性，来计算上述气体中的粒子的质量浓度。 | ||
| 搜索关键词： | 测定 装置 以及 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测定装置，其特征在于，具备：数量浓度测定器，测定气体中的粒子的数量浓度；湿度测定器，测定上述气体的湿度；以及气体浓度测定器，测定上述气体中的特定气体的浓度，基于测定出的数量浓度、测定出的湿度以及测定出的特定气体的浓度、和预先求出的数量浓度、湿度以及特定气体的浓度与上述气体中的粒子的质量浓度的相关性，来计算上述气体中的粒子的质量浓度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士通株式会社，未经富士通株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201780082945.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
